SUNX FD-L40系列用於玻璃電路板半導體工業的感測器

SUNX FD-L40系列用於半導體工業的感測器(玻璃電路板/晶片反射)

update : 2005/06/06

特點：

功能：

一. Mapping 光纖 FD-L46
1.即使薄玻璃電路板也能精確確認由於採用獨持的大透，即使是薄玻璃電路板也能從側面直接檢測。另外，由於檢測範寬(25±12.5)，即使玻璃電路板在不規則位置上也可進行穩定繪圖。
2.可用於各種玻璃電路板各種玻璃邊形狀如 R 表面和 C 表都可獲得大光量，因而盒內玻璃電路板的精確確認成為可能。除了清晰的玻璃外，黑色或黃色鍍膜的玻璃也可被檢測。
二. 校準光纖 FD-L43
1.即使 ±8° 的彎曲也能穩定檢測隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但至少有一種可應用於左右彎曲±8°(原先為±6°) 的電路板。
2.寬範圍高精度檢測檢測距離為 3~17mm (原先為5~17mm)，且由於定位誤差在 0.2mm 以下，因此可進行更高精度的檢測。
三. 座式確認光纖 FD-L44
1.檢測距離 0~7mm，業界最長比以往更小的尺寸達到了同類中最長的檢距離，同於座式確認十分理想，即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩定的檢測性能。
2.還備有短距離型 FD-44S 備有座式確認光纖 FD-44 的短距離型。適用於間距輕小的小型玻璃電路板及晶片。