南樺 電子報 047 出刊日期 | 2005.06.06

SUNX FD-L40系列用於半導體工業的感測器(玻璃電路板/晶片反射)


  FD-L46/FD-L44/FD-L43 三種用於玻璃電路板搬運裝置的光纖系列,即使很薄的玻璃基板也能確實
定位,反射率很差的端面和變色玻璃也可以檢測,適用於液晶等半導工業 。


特點:


即使很薄的玻璃電路板也能精確確認。


可用於各種玻璃電路板。

即使 ±8° 的彎曲也能穩定檢測。


寬範圍,高精度檢測。

小型設定實現靈活定位。



功能:

一. Mapping 光纖 FD-L46

1.即使薄玻璃電路板也能精確確認
由於採用獨持的大透,即使是薄玻璃電路板也能從側面直接檢測。另外,由於檢測範寬(25±12.5),即使
玻璃電路板在不規則位置上也可進行穩定繪圖。

2.可用於各種玻璃電路板
各種玻璃邊形狀如 R 表面和 C 表都可獲得大光量,因而盒內玻璃電路板的精確確認成為可能。
除了清晰的玻璃外,黑色或黃色鍍膜的玻璃也可被檢測。

. 校準光纖 FD-L43

1.即使 ±8° 的彎曲也能穩定檢測
隨著玻璃電路板的大型化,其彎曲量也因此變大,但至少有一種可應用於左右彎曲±8°(原先為±6°)
的電路板。
2.寬範圍高精度檢測
檢測距離為 3~17mm (原先為5~17mm),且由於定位誤差在 0.2mm 以下,因此可進行更高精度的檢測。
三. 座式確認光纖 FD-L44
1.檢測距離 0~7mm,業界最長
比以往更小的尺寸達到了同類中最長的檢距離,同於座式確認十分理想,即使對彎曲的玻璃電路板也可
提供穩定的檢測性能。
2.還備有短距離型 FD-44S
備有座式確認光纖 FD-44 的短距離型。適用於間距輕小的小型玻璃電路板及晶片。


  • 詳細內容請參閱 FD-L
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